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A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度儀

簡要描述:A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度儀,采用聚焦激光散射或激光衍射的原理進行樣品顆粒度的檢測。低檢測下限可達0.08µm ,在全球同類產品中都處于先地位。
大量程激光粒度儀A22的推出,可以替代之前Fritsch公司所生產的緊湊型、微米型、大量程微米型激光粒度儀,讓您一次使用中可以同時獲得過去三臺機器的全部功效,使用更加便捷。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2025-01-21
  • 訪  問  量:1730

詳細介紹

品牌FRITSCH/德國飛馳測量時間5-10秒
測量范圍0.01 - 2000微米分散方式濕法分散
價格區(qū)間面議儀器種類靜態(tài)光散射
產地類別進口應用領域醫(yī)療衛(wèi)生,食品,生物產業(yè),冶金,制藥

德國Fritsch公司是實驗室樣品預處理和顆粒度分析的專家。


Fritsch公司的A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度儀,采用聚焦激光散射或激光衍射的原理進行樣品顆粒度的檢測。低檢測下限可達0.08µm ,在全球同類產品中都處于先地位。
大量程激光粒度儀A22的推出,可以替代之前Fritsch公司所生產的緊湊型、微米型、大量程微米型激光粒度儀,讓您一次使用中可以同時獲得過去三臺機器的全部功效,使用更加便捷。


技術參數(shù):

1. 分析方法:激光散射/激光衍射
2. 濕法測量范圍:0.01 - 2000 µm
3. 測量時間:5-10 s(單一測量時測量值記錄);2 min(整個測量循環(huán))
4. 分析樣品回路體積:300-500ml,可調節(jié)容積, 可調速徑向泵
5. 測量周期:2min
6. 光學排列:反傅立葉設計,活動的測量元件(FRITSCH*利)
7. 測量通道:165
8. 測量結果的重xian性:≤0.5%
9. 光源:波長532nm 2束、波長940 nm 1束
10. 雙激光三束設計:綠光、紅色雙激光測量光束,綠色激光束背向補償
11.傅里葉透鏡:260mm和560mm焦距(綠光或紅外線)
12.軟件:采用FRITSCH MaS控制軟件,用于控制,記錄和評估測量結果
13.符合國際ISO13320標準


主要特點:

1. 大量程激光粒度儀A22 MicroTec Plus,可替代以前的緊湊型、微米型、大量程微米型激光粒度儀
2. 雙激光三束設計: 綠光2束 (532nm), 紅色激光1束 (940nm)
3. *的曲光系統(tǒng)
4. 雙測量位置
5. 測量時間10 sec.
6. 高效的自動光束測量陣列
7. 測量系統(tǒng)和濕法分散系統(tǒng)單獨分開
8. 適用于在水相及大多數(shù)有機相(例如異丙醇) 中使用
9.可調節(jié)容積, 通過電腦可實現(xiàn)選擇:300、400、500ml
10.測量單元使用 Cardridge-like 設計,易于轉換改變
11.可調節(jié)的超聲波探頭
12.無須使用攪拌器


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